Page 56 - Dys

56

2.4.2. Рентгенографічні дослідження

Приповерхневі шари металевих зразків після МІО піддавали

рентгенографічним дослідженням.

Середній розмір кристалітів D, густину дислокацій ρ та зміну
д
параметра кристалічної ґратки ∆d/d визначали згідно рентгенограмм [97, 98]

на дифрактометрі-дифрактографі ДРОН-3. Фазовий склад поверхневих шарів

сталей після МІО вивчали рентгенівським методом у СuK -випромінюванні
α
(U = 30 кВ, I = 20 мА) з кроком 0,05° та експозицією у точці 4 с. Обробляли

дифрактограми, використовуючи програмне забезпечення CSD [99]. Густину

дислокацій розраховували за величиною фізичного розширення ліній (220)k .
α
Рентгенограми ідентифікували за картотекою JCPDS-ASTM [100].

2.4.3. Мас-спектральний аналіз

Мас-спектральним аналізом [101] на спектрометрі SMI 300 (Cameca)

методом мас-спектрометрії вторинних іонів співставленням висоти спектрів

відповідних хімічних елементів, оцінили вплив МІО на зміну кількісного

відносного (відносно необробленої сталі) їх вмісту у поверхневому шарі:

водню, азоту, вуглецю та кисню, які вважали вагомими для формування

НКС.

2.4.4. Вимірювання твердості

Мікротвердість Н металу зразків після МІО визначали на поперечному
μ
січенні циліндричних або плоско шліфованих зразків з паралельними

поверхнями не менше ніж в 10 точках на стаціонарному мікротвердомірі
ПМТ-3 алмазною пірамідкою за навантаження 100 гр [102]. Значення

усереднювали на основі не менше 10 замірів.

За величиною мікротвердості Н μ 100 та її розподілом по глибині зразка

від поверхні визначали ступінь поверхневого зміцнення та товщину

зміцненого шару оброблених МІО зразків.