Page 106 - УДК

106

Приріст тріщини визначали наступним чином

 2s  2s  2s i 1 . (2.6)
i
i
Глибину тріщини b обчислювали за формулою

b  b i 1  p   s i , (2.7)
i

p  (b  b ) / (s  s ) . (2.8)
II I II I

Відношення довжини осей півеліптичної тріщини обчислювали за

формулою

( / )  ( / ) i 1  q   b i , (2.9)
b a
b a
i
q  ( / )b a II  ( / )b a I  / (b  b I ) . (2.10)
II

2.6 Методика електронномікроскопічних досліджень механізмів

деформування і руйнування

Фрактографічні особливості руйнування зразків досліджували на

сканівному електронному мікроскопі Hitachi S-2600N та EVO-40XVP [188] із

можливістю роботи у режимах високого вакууму, низького вакууму та

наднизького вакууму в комплекті з:

 повністю безмасляною системою відкачки вакууму на базі форвакуумної

помпи та турбомолекулярної помпи високої продуктивності без масляних

ущільнень і підшипників. Швидкість відкачки камери на стандартному

зразку – 3 хвилини;

 електронно-оптичною колоною для вольфрамового катоду;

 детекторами: вторинних електронів Эвернхарта-Торнлі (SE); 4-ох

сегментним детектором відбитих електронів (BSD) з кріпленням на

полюсному наконечнику (не потребує настройки та юстировки, не

скорочує робочу відстань мікроскопу і постійно готовий до роботи, не

займає окремого порту в камері мікроскопу); вторинних електронів для

низького вакууму (VPSE); детектором поглинутого струму;