Page 46 - Стасишин Дисертація
P. 46

46



                                                   2.1 Реалізація МТКІ



                     Для реєстрації ІП було вибрано схему інтерферометра Тваймана-Гріна [79].

             Після реєстрування трьох ІП  (, ),  (, ) та  (, ), що відрізняються між собою
                                                 1
                                                                       3
                                                           2
             лише  невідомими  ЗФОП,  достатньо  сформувати  лише  дві  різницеві  ФМ,  з  яких
             виключено фонову інтенсивність  (, ) +  (, ) [91]. Крім того, якщо визначити
                                                       
                                                                   
             два  фазові  зсуви     між  ІП     та     і     між     та   ,  то  шукану  ФМ  можна
                                                                                   3
                                                                            1
                                                    1
                                     12
                                                                 13
                                                           2
             реконструювати  за  допомогою  простого  аналітичного  рівняння  без  будь-яких
             додаткових операцій. Саме цей принцип було використано у запропонованому МТКІ
             з  двома  довільними  ЗФОП  [91].  У  цьому  методі  здійснюють  попереднє

             екстрагування  довільних  ЗФОП  із  трьох  зареєстрованих  ІП   (, ),   (, )  та
                                                                                            1
                                                                                                       2
              (, ) за допомогою кореляційного підходу (КП) [91] і подальше відтворення ФМ
              3
             об’єкта досліджень. КП можна використовувати для екстрагування довільних ФЗОП

             у діапазоні від 0 до π з низьким рівнем систематичних похибок, як це було показано

             у  [92].  Отже,  якщо  ЗФОП  не  перевищуватимуть  π,  МТКІ  можна  ефективно

             застосовувати.  Крім  відтворення  ФМ  поверхні,  метод  також  містить  процедуру

             розділення і виділення низькочастотної і високочастотної складових фазових масок,

             що розглядаються як дві складові поверхні об’єкта досліджень, і які після сумування

             дають повний РП. Якщо ця поверхня є гладкою або наношорсткою, то МТКІ можна

             використовувати  як  для  відтворення  повного  РП  цієї  поверхні,  так  і  для  його

             високочастотної  і  низькочастотної  складових.  Якщо  ж  діагностують  інженерні

             поверхні,  то  ці  складові  можна  трактувати  як  тривимірну  (3D)  шорсткість  і  3D

             хвилястість відповідно.


                     Для реалізації методу МТКІ необхідно послідовно виконати два етапи. Під час
             першого здійснюють реєстрацію трьох ІП та їх обробку. На стадії обробки цих ІП I 1,


             I 2  та  I 3  отримують  фазовий  розподіл  (ФМ),  який  є  «грубим»  наближенням  до
             кінцевого.  На  другому  ж  етапі  розділяють  високо-  та  низькочастотну  складову,


             фільтрують шуми та отримують окремо хвилястість й шорсткість поверхні. Окремі
             операції, що виконують у методі МТКІ, за своєю сутністю дещо схожі до операцій
   41   42   43   44   45   46   47   48   49   50   51