Page 70 - ДисМокрий21
P. 70

70

               Перо.  Слід  відмітити  також,  що  чутливість  методики  зменшується  у  випадку

               зменшення частоти УЗ–хвиль.

                     Одна  з  найбільших  груп  методів  безконтактної  реєстрації  акустичних

               хвиль  об’єднує  інтерференційні  методи.  Ці  методи  реєструють    зміщення

               поверхні  зразка,  спричинене  поширенням  акустичної  хвилі.  Використовують

               ефект  зміни  фази  відбитого  променя  залежно  від  зміщення  поверхні.  Фазу

               відбитого променя визначають з допомогою інтерференції двох променів [150,

               162, 167–182].

                     Одним  з  найпоширеніших  інтерферометрів,  які  застосовуються  для

               реєстрації  акустичних  хвиль,  є  інтерферометр  Майкельсона.  Схема  цього

               інтерферометра  наведена  на  рис.  1.18.  Світло  від  джерела  попадає  на

               світлоподільник і розбивається на два промені. Один промінь іде до нерухомого

               дзеркала, а інший – до зразка, по поверхні якого поширюється акустична хвиля.


               Далі  ці  два  промені  відбиваються  від  відповідних  поверхонь  і  з  допомогою
               світоподільника        попадають        на    чутливу      ділянку      фотоприймача,         де


               інтерферують.        Інтенсивність       інтерференційної         картини      на     поверхні
               фотоприймача  залежить  від  різниці  фаз  променів.  Під  час  проходження


               акустичної  хвилі  через  зразок  зміщується  його  поверхня  і,  відповідно,
               змінюється  відстань,  яку  проходить  відбитий  від  цієї  поверхні  промінь.


               Оскільки  відстань  до  дзеркала  є  незмінною,  то  змінюється  різниця  фаз  між

               променями,  які  приходять  на  фотоприймач.  Для  векторів  напруженості

               електричного поля світлових хвиль можна записати вирази [167]:



                                                        E   E  e i ( t -kz  ) s
                                                                         s  0 s  ;                                            (1.24)

                                                         E   E  e i ( kt  ( - z m  2 -  )) 
                                                                          m  0 m  ,



               де  E s – напруженість електричного поля відбитої від зразка хвилі, δ ‒ амплітуда

               зміщення  поверхні  зразка  під  дією  акустичної  хвилі,  E m  −  напруженість
   65   66   67   68   69   70   71   72   73   74   75