Page 77 - Dys
P. 77
77
світлого поля (а), темного поля (б) та дифракційні кільця (в) із різних глибин.
Слід зазначити, що згідно із працями [123, 101] зображення у темному полі є
найбільш інформативним, оскільки контраст сформований у темному полі
залежить лише від різної кристалографічної орієнтації різних площин, тому
розмір структурних елементів слід визначати по ньому.
Результати рентгенівських досліджень (рис. 3.7, табл. 3.3)
підтверджуються електронно-мікроскопічними зображеннями [124] (рис.
3.8). Величина кристалітів у поверхневих шарах із глибин у діапазоні δ = 5 –
200 мкм змінюється ґрадієнтно, поступово збільшуючись до величини зерна
матричного матеріалу. Величина кристалітів на глибині 5 мкм становить
~ 10 –15 нм. Кристаліти суттєво спотворені внаслідок ІПД. Причиною цього
є, імовірно, великі напруження, що виникають в тілі нерівновісного зерна та
скупчуються на границях від наявної великої густини дислокацій. Для
великих глибин характерна комірчаста структура з невеликими кутами
розорієнтування (глибина 200 мкм). У структурі спостерігаємо хаотично
розміщені дислокації у вигляді клубків. Для ділянки поверхневого шару на
глибині 5 мкм структура сильно фрагментована. На темнопольному
зображенні виявлено нанорозмірні кристаліти, розміщені паралельними
масивами з розмірами близькими до 10–15 нм, що добре узгоджується з
результатами дифрактометричних (рентгенівських) досліджень. Розмиті
кільця на дифрактограмах свідчать про формування НКС [38]. На
електронограмах кільцеве розміщення вказує на велике розорієнтування
(більше десяти градусів) між зернами, а азимутальне розмиття вказує на
великі напруження всередині зерна. На глибинах 20 і 30 мкм напруження на
границях зерен дещо зменшуються, величина кристалітів зростає (рис. 3.8).
Дифракційна картина відповідає дрібнокристалічному стану.
Мікродифракція тонких фольг показала, що в тонких зонах, які
безпосередньо прилягають до поверхні, електронографічно реєструються
дуже розмиті дифракційні кільця з великим числом рефлексів, які свідчать
про великокутове розорієнтування сусідніх зерен (глибина 15, 20, 30 мкм).