Page 77 - Dys
P. 77

77

                  світлого поля (а), темного поля (б) та дифракційні кільця (в) із різних глибин.

                  Слід зазначити, що згідно із працями [123, 101] зображення у темному полі є

                  найбільш  інформативним,  оскільки  контраст  сформований  у  темному  полі

                  залежить лише від різної кристалографічної орієнтації різних площин, тому

                  розмір структурних елементів слід визначати по ньому.

                         Результати        рентгенівських         досліджень         (рис. 3.7,     табл. 3.3)

                  підтверджуються  електронно-мікроскопічними  зображеннями  [124]  (рис.

                  3.8). Величина кристалітів у поверхневих шарах із глибин у діапазоні δ = 5 –

                   200 мкм змінюється ґрадієнтно, поступово збільшуючись до величини зерна

                  матричного  матеріалу.  Величина  кристалітів  на  глибині  5 мкм  становить

                  ~ 10 –15 нм. Кристаліти суттєво спотворені внаслідок ІПД. Причиною цього

                  є, імовірно, великі напруження, що виникають в тілі нерівновісного зерна та

                  скупчуються  на  границях  від  наявної  великої  густини  дислокацій.  Для

                  великих  глибин  характерна  комірчаста  структура  з  невеликими  кутами

                  розорієнтування  (глибина  200  мкм).  У  структурі  спостерігаємо  хаотично

                  розміщені дислокації у вигляді клубків. Для ділянки поверхневого шару на

                  глибині  5  мкм  структура  сильно  фрагментована.  На  темнопольному

                  зображенні  виявлено  нанорозмірні  кристаліти,  розміщені  паралельними

                  масивами  з  розмірами  близькими  до  10–15  нм,  що  добре  узгоджується  з

                  результатами  дифрактометричних  (рентгенівських)  досліджень.  Розмиті

                  кільця  на  дифрактограмах  свідчать  про  формування  НКС  [38].  На

                  електронограмах  кільцеве  розміщення  вказує  на  велике  розорієнтування

                  (більше  десяти  градусів)  між  зернами,  а  азимутальне  розмиття  вказує  на

                  великі напруження всередині зерна. На глибинах 20 і 30 мкм напруження на

                  границях зерен дещо зменшуються, величина кристалітів зростає (рис. 3.8).

                  Дифракційна           картина        відповідає        дрібнокристалічному            стану.

                  Мікродифракція  тонких  фольг  показала,  що  в  тонких  зонах,  які

                  безпосередньо  прилягають  до  поверхні,  електронографічно  реєструються

                  дуже  розмиті дифракційні  кільця  з  великим  числом  рефлексів,  які  свідчать

                  про великокутове розорієнтування сусідніх зерен (глибина 15, 20, 30 мкм).
   72   73   74   75   76   77   78   79   80   81   82