Page 137 - Thesis_Oprysk_Volodymyr
P. 137
132
а) б)
в) г)
Рисунок 5.2 – Зображення СЕМ для: а) Ni; б) Ni 99Pd 1; в) Ni 95Pd 5; г) Ni 90Pd 10;
5.3. XPS аналіз нанопорошків Ni–Pd
Хімічний стан поверхні хімічно відновлених наночастинок досліджено
методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії (XPS). Оглядові спектри
реєстрували в діапазоні енергій зв’язування 0-1100 еВ. В отриманих результатах,
для усіх досліджених порошків ідентифіковано основні рівні Ni та O, а у Pd-вмісних
композиціях – додатково Pd; у всіх зразках також присутні сигнали C, Fe та, в
деяких, Cr. Хоча піки C спостерігалися у всіх спектрах дослідження, вони належать
вуглецевому субстрату. Приклад типового XPS-спектра для зразка Ni 95Pd 5 наведено
на рис. 5.3.
Положення піків і визначені на їх основі ступені окиснення елементів добре
узгоджуються з літературними даними. Присутність оксигену вказує на часткове
