Page 186 - Microsoft Word - Дисертація.docx
P. 186

186

                        Якщо для підмножини точкового поля обчислене значення L-тесту


                  перевищує критичне, то вважали, що елементи підмножини утворюють

                  скупчення.

                        Особливості  запропонованої  побудови  на  основі  характеристик

                  другого  порядку  дали  змогу  виділити  сегменти  у  вигляді  смуг  з

                  однаково  орієнтованими  елементами.  Застосування  запропонованого


                  підходу  дало  змогу  розділити  точкові  поля,  а  отже  і  зображення,  на

                  основі  яких  вони  сформовані.  Порівнявши  кількість  підмножин

                  однаково       орієнтованих         елементів       та    їх     потужність        можна

                  стверджувати,  що  для  матеріалу  у  вихідному  стані  кількість  таких


                  підмножин  є  майже  у  двічі  більшою  ніж  порівняно  з  деградованим

                  матеріалом (Рис.4.9).

                  Отже       вперше       запропоновано         використовувати          характеристики

                  точкових  образів  та  кластерний  аналіз  для  дослідження  способу


                  розташування  карбідів  в  зернах  матеріалу.  Запропонована  кількісна

                  характеристика, а саме сума величин кластерів, однаково орієнтованих

                  карбідів, яка описує рівень сформованості стрічок, що, в свою чергу, є

                  мірою деградації матеріалу.


                                                      Деградований стан
                                                      Вихідний стан
                                          21
                                        кількість елементів, N  14








                                           7





                                           0
                                               50            100             150
                                                                          кут орієнтації, φ


                     Рис. 4.9. Діаграма орієнтованих кластерів елементів точкових полів
   181   182   183   184   185   186   187   188   189   190   191