Page 153 - Microsoft Word - Дисертація.docx

153

λ =λµ, де µ - середнє значення маркерів. Оцінкою для неї слугує
S
величина:
)
λ S = ∑ m ( ) ( ).
ν W
x
x ∈W
Характеристики другого порядку для маркованих точкових

процесів популярний інструмент дослідження таких процесів. Їх можна

використати не тільки для дослідження розподілу точок та розподілу

маркерів, але й для встановлення кореляційних залежностей між

маркерами та точками. Вважається що можна виділити m підпроцесів N i

для точок з маркерами i та інтенсивностями λ , i=1,2,…,m.
i
К-функція означена раніше для немаркованого точкового процесу

у випадку багатомірного маркованого точкового процесу визначається

як

λ K ij ( )= Er i (N j (b ( ))) >r,r,o 0 .
j

Тобто λ K ( ) r є середнім числом точок типу j у крузі радіусу r з
j ij
центром у точці типу i .

3.6. Точкові поля сформовані на основі металографічних

зображень.

Випадкові точкові процеси можна застосовувати для дослідження

металографічних зображень як макроструктури так і мікроструктури

матеріалу. Реалізацією випадкових точкових процесів є випадкові

точкові поля або випадкові точкові образи. У випадку металографічних

зображень макроструктури матеріалу асоціації з точковими елементами

більш очевидні ніж для зображень мікроструктури. Оскільки

макроаналіз дає можливість виявляти раковини, шлакові включення,

тріщини та інші дефекти будови сплаву, то ставлячи у відповідність