Page 85 - КЛАСИФІКАЦІЯ ЛОКАЛІЗОВАНИХ ДЕФЕКТІВ ЗВАРНИХ ШВІВ НА РЕНТГЕНІВСЬКИХ ЗОБРАЖЕННЯХ ТРУБ
P. 85

85

                     1.4.  Методи  сегментації  зображень  зламів  та  поверхонь  покриттів  в

               задачах діагностики



                      Виділяють такі підходи до текстурного аналізу: структурні, статистичні,

               на  основі  моделей,  на  основі  перетворень.  Структурний  підхід  полягає  в

               поданні  текстури  за  допомогою  примітивів  (мікротекстури)  та  ієрархії

               просторового  компонування  (макротекстури)  цих  примітивів.  [196,  197].

               Потужним інструментом для текстурного аналізу є апарат математичної морфо-

               логії [198-200]. При статистичному підході використовують статистики другого

               порядку [201], проводять розпізнавання текстур людиною порівняно з текстур-

               ними  статистичними  ознаками  [202],  використовують  моменти  третього

               порядку [203] та матрицю спільної появи (co-occurrence matrix) [196]. У випадку

               підходу на основі моделей використовують марківські випадкові поля [204-207],

               випадкові  поля  Гібса  [206-208],  фрактальні  моделі  [209-211]  та  авторегресивні

               моделі [212-214]. У разі підходу на основі перетворень використовують перетво-

               рення Фур’є [215],  перетворення Габора [216-219], вейвлет перетворення [220-

               222], нейронні мережі та інші перетворення [223-226].

                     Для точнішого визначення країв ямок на зображенні рельєфної структури


               поверхні  руйнування  використовують  методи  обробки  цифрових  зображень.
               Фільтрація  застосовується  для  попередньої  обробки  фрактографічних


               зображень [227, 228]. Вона усуває нерізкість і базується на операторі Лапласа
               як  засобі  отримання  високочастотних  компонентів.  Нерізкість  як  значення


               перепаду обчислюється як різниця між значенням рівня сірого пікселя в центрі

               околу  ( jiL  ,  ) та низькочастотним згладженим компонентом  ( jiL          ,  ) , де  i,  j  W ,

               i 1  ,  N ,  j 1  , M .  Це  підсилення  перепадів  потрібно  для  розрізнення  ямок  і


               фону.

                     У [229] запропонована схема визначення замкнутих контурів областей, що

               позначають  поверхню  або  ямку.  Запропонована  методологія  використовує

               поліпшення  зображення  та  поєднання  основних  методик  обробки  зображень
   80   81   82   83   84   85   86   87   88   89   90