Page 221 - КЛАСИФІКАЦІЯ ЛОКАЛІЗОВАНИХ ДЕФЕКТІВ ЗВАРНИХ ШВІВ НА РЕНТГЕНІВСЬКИХ ЗОБРАЖЕННЯХ ТРУБ
P. 221

221

                                                                                             2
                                                         2
               мікроскопа  становила 0,30864 µm , а з електронного 0,1479 µm . Зображення з
               оптичного  мікроскопа,  аналізували  за  запропонованим  методом,  а  з

               електронного  –  візуально.  Визначено  загальну  кількість  дефектів  N;  площу

               дефектів  S   ;  співвідношення  площі  дефектів  до  загальної  площі  S /  S   ;
                            def
                                                                                                     def
                                                                                                           pov
               мінімальний розмір дефекту S  ; максимальний розмір дефекту S                   max . див. табл.
                                                    min
               5.1.

                         Таблиця 5.1 ‒ Кількість локалізованих дефектів та їх параметри.

                                                       2
                                                                                                              2
                                                                                                 2
                  Параметри  N                S , µm        N/S ,        S / S         S  , µm   S    max , µm
                                                                pov
                                                def
                                                                                pov
                                                                                         min
                                                                           def
                                                                  2
               Мікроскоп                                    1/µm
                                                                                               -1
                                                                                                           3
                                                                    -3
                                                       4
               Оптичний          899          1,80·10       1,45·10   0,029            9,25·10   1,8·10
               мікроскоп
                                                                    -3
                                                                                               -1
                                                                                                             2
                                                       4
               Електронний  910               1,09·10       1,47·10   0,018            1,48·10   2,73·10
               мікроскоп

                      Електронний  мікроскоп  має  набагато  вищу  роздільну  здатність  проти
               оптичного і, відповідно, виявляє   більше дефектів малого розміру. Крім того,

               під час обробки фотографій з оптичного мікроскопа через шорсткість поверхні

               деякі  нерівності  сприймаються  як  дефекти  великої  площі.  На  досліджуваній

               ділянці  поверхні  оксидокерамічного  покриву  виявлено  один  такий  дефект

               поверхні. Розглянемо розподіл поверхневих дефектів за площею, аналізуючи їх

                                                                                                   2
                                2
               з кроком 1 µm . Найчастіше зустрічаються дефекти з площею  2 µm . З ростом
                                                         2
               площі  дефектів  від  2  до  10  µm   їх  кількість  стрімко  зменшується  і  далі
                                                                                     2
               змінюється незначно, а дефектів з площею більше 100 µm  – одиниці (рис. 5.3).
   216   217   218   219   220   221   222   223   224   225   226