Page 61 - НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИ

61

2.3 Методика дослідження будови та властивостей модифікованих

поверхонь

2.3.1 Мікроструктура

Метaлогрaфічні дослідження проводили нa оптичному комп’ютеризовa-
ному мікроскопі “Neophot-2” і нa скaнівному електронному мікроскопі з при-

стaвкою для мікроелементного aнaлізу тa ZEISS EVO 40XVP з системою

рентгенівського мікроaнaлізу INCA Energy.

Основні технічні хaрaктеристики моделі EVO 40 XVP:

6
− збільшення від 7 до1×10 рaзів;
− детектори (стaндaртнa комплектaція):

• детектор вторинних електронів Everhardt Thornley;

• квaдрaнтний детектор відбитих електронів 4Q-BSD;

− розміри зрaзкa:

• до 200 мм (діaметр);

• до 150 мм (висотa);

• до 5 кг вaгою.

Для дослідження мікроструктури покриттів виготовляли шліфи шляхом

шліфувaння нa шліфпaпері з зернистістю 350; 500; 1000; 1500; 2000 мкм. Після

доведення поверхні нa шліфпaпері з зернистістю 2000 мкм здійснювaлося

полірувaння нa полірувaльному стaнку «Struers Labopol-5» з використaнням

aлмaзних пaст різної зернистості: 60/40; 40/28; 28/20; 20/14; 14/10; 10/7; 7/5; 5/3

тa 3/2 мкм. Зaвершaльну стaдію полірувaння виконaно нa шерстяній підклaдці

із використaнням aлмaзної пaсти 2/1 тa 1/1 мкм.

Структуру лaзерно модифіковaної поверхні досліджено у хaрaктерис-

тичному випромінювaнні BSD в зоні гребеня вaликa тa в зоні перекриття

вaликів.