ФІЗИКО-МЕХАНІЧНИЙ ІСТИТУТ ІМ. Г.В. КАРПЕНКА НАН УКРАЇНИ

Призначення:

Відтворення рельєфу поверхні і визначення параметрів шорсткості та хвилястості. 3D-профілометр створений на базі бінокулярного мікроскопа. Поєднує в одній конструкції мікроскоп, інтерферометричну насадку, цифрову відеокамеру та генератор пилкоподібної напруги. 3D-профілометр містить програмне забезпечення для оброблення інтерферограм поверхні, керування фазозсувним елементом та синхронізації роботи приладу. Досліджуваний зразок закріплюють на двокоординатному столику мікроскопа.

Характеристики:

• Поле зору 3 … 34 мм;
• Вимірювана шорсткість Ra=0,01…0,12 мкм за використання 1-го лазера та Ra=0,2…6 мкм за використання 2-х лазерів;
• Вимірювана хвилястість 0,1…40 мкм;
• Час вимірювання та отримання результатів ≤ 1 с;
• Вага ≤ 9 кг разом із мікроскопом (вага мікроскопа ~ 8 кг).

Переваги:

Безконтактний спосіб отримання інтерферограм поверхні. Висока швидкодія. Швидка зміна розмірів ділянки спостереження. Низька собівартість виготовлення.

Контактна інформація:

Корній Валентина Василівна

Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України