Page 34 - Microsoft Word - Дисертація.docx
        P. 34
     34
                         Візуально-оптичний  метод  неруйнівного  контролю  є  досить
                  простим методом, проте, може служити високоефективним засобом для
                  попередження  і  виявлення  дефектів.  Поряд  з  перевагами  візуально-
                  оптичний метод має і недоліки, до яких відносяться недостатньо високі
                  достовірність  і  чутливість.  Тому  візуально-оптичний  контроль  слід
                  застосовувати в наступних випадках: для пошуку поверхневих дефектів,
                  корозійних і ерозійних ушкоджень, вибоїн, виразок, відкритих раковин,
                  доступних  для  безпосереднього  огляду,  для  аналізу  характеру  і
                  визначення типу поверхневих дефектів, виявлених при контролі деталей
                  іншими  методами  діагностування.  Такі  методи  контролю  якості
                  зводяться до металографічних досліджень. Їх проводять на зразках, що
                  вирізаються  з  виробу  або із  технологічних проб,  виконаних  відповідно
                  до  вимог  і  технології  певного  виробу  в  умовах,  що  відповідають
                  експлуатації виробу [4].
                  Якщо  порівняти  візуально-оптичний  МНК  з  іншими  МНК,  то  серед
                  головних особливостей слід відмітити наступні:
                         - простота реалізації;
                         -  відсутність  складного  спеціального  обладнання  для  збору
                  інформації;
                         - застосовуваність в польових умовах;
                         - можливість попередньої обробки вхідних даних;
                         1.3.    Системи         перетворення         оптичної        інформації        для
                  моніторингу технічного стану об’єктів.
                         Розвиток  технічних  систем  моніторингу  усе  активніше  висуває
                  вимогу  по  оснащенню  цих  систем  технічним  зором  (СТЗ).  Оскільки
                  оптико-електронні          зображення        досліджуваного          об’єкта      містять
     	
